멘토, 지멘스 비즈니스(대표 양영인)는 오늘, 차량용 반도체 안전 표준인 ISO 26262 적격성을 유지해 주는 자사의 Tessent® ScanPro 및 Tessent LogicBIST 제품에서 VersaPoint™ 테스트 포인트 기술을 사용할 수 있게 되었다고 발표했다.
VersaPoint 테스트 포인트 기술은 제조 테스트 비용을 절감해주고 시스템 내 테스트의 품질을 향상시킨다. 이 두 요건은 자동차를 비롯한 여러 산업 분야에서 신뢰성 높은 IC를 구현하는 데 필수적이다. 멘토는 또한 르네사스 일렉트로닉스의 오토모티브 IC에 VersaPoint 기술이 채택되었다고 발표했다. 이는 안전 필수 테스트 요건에 부응하여 ASIL(차량 안전성 보전 등급) C 및 D 인증을 달성하기 위해서다.
오토모티브 IC의 디지털 회로는 일반적으로 온칩 압축/ATPG 기술과 로직 내장 셀프 테스트(LBIST) 기술의 하이브리드 솔루션을 이용해 테스트되며, 이를 통해 제조 테스트에서 매우 높은 결함 커버리지를 달성하고 시스템 내 셀프 테스트와 전원인가시 셀프 테스트(POST)를 실현한다.
테스트 포인트는 테스트 결과를 향상시키기 위해 사용되는 전용 설계 구조물이다. 전통적인 LBIST 테스트 포인트는 IC 내의 “랜덤 패턴 저항” 문제를 다룸으로써 향상된 결과를 제공한다. 멘토가 보다 최근에 온칩 압축/ATPG 전용으로 개발한 테스트 포인트는 ATPG 패턴 수를 온칩 압축만으로 달성할 수 있는 것보다 2~4배 이상 줄여준다. Tessent VersaPoint 테스트 포인트 기술은 이러한 기술들을 결합하고 향상시킨다.
Tessent VersaPoint 기술을 채택하면 LBIST 테스트 커버리지가 기존의 LBIST 테스트 포인트의 경우보다 높아지며, ATPG 패턴 수는 온칩 압축/ATPG 테스트 포인트를 이용할 때보다 감소된다. 이 기술은 Tessent Hybrid ATPG/LBIST를 사용하는 테스트 엔지니어들이 특히 자동차 애플리케이션을 겨냥한 IC 분야에서 비용 절감과 테스트 품질 향상을 달성하도록 설계되었다.
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